法国PhasicsSID4系列波前传感器
-----四波横向剪切干涉波前传感器
产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种技术将高分辨率和大动态范围很好地结合在一起。能实现全面、简便、快速的测量。
法国Phasics SID4系列波前分析仪主要应用领域：
1. 激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形
3. 元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
4. 光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
5. 热成像分析，等离子体特征分析
6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
法国Phasics SID4系列波前分析仪产品特点：
1. 高分辨率：采样点可达120000个
2. 可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准
3. 消色差：干涉和衍射对波长相消
4. 高动态范围：高达500μm
5. 防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试
更多详情咨询：
http://www.eachwave17.cn/Products-37202953.html
https://www.chem17.com/st326217/erlist_1303064.html
