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介电温谱测试

放大字体  缩小字体 发布日期:2023-08-29 14:27:56    浏览次数:18
导读

介电温谱测试系统是一款研究介电材料在不同温度下的介电常数、损耗值变化,同时还可以测试样品在不同温度下的介电数据随频率变化曲线,适用块体材料和薄膜材料。介电温谱测试系统主要包括电桥LCR、探针冷热台以及测

介电温谱测试系统是一款研究介电材料在不同温度下的介电常数、损耗值变化,同时还可以测试样品在不同温度下的介电数据随频率变化曲线,适用块体材料和薄膜材料。
介电温谱测试系统主要包括电桥LCR、探针冷热台以及测试软件。
硬件配置:
1、电桥LCR(keysight、同惠、日置、稳科等各类品牌产品);
2、探针冷热台(CH600-190-P4等型号)。
配置参数:
温度范围 -190~600℃ / RT~1000℃(选型)
温度稳定性及分辨率 ±0.1℃,0.1℃
致冷方式 液氮
载样台材质 银质
载样台尺寸 23*23mm(可定制)
腔体类型 气密(可升级真空)
探针材质及数量 紫铜镀金或钨钢镀金,4或8个(选型)

配置选配:

1、智能全自动液氮泵;

2、磁吸式探针;

3、高低温控制系统。


产品示例:

图1 测试系统装配图


图2 场景测试实例一


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(文/小编)
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