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ESD芯片测试

放大字体  缩小字体 发布日期:2022-08-29 16:13:55    浏览次数:69
导读

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HED-N5000全自动ESD测试系统l可以测试多达1056 pin的器件l占用空间小l适用

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。


HED-N5000    


全自动ESD测试系统

l 可以测试多达1056 pin的器件

l 占用空间小

l 适用于ESD测试和latch-up测试,符合最新的测试标准,

l   板上最多8个插座。

l  符合国际标准(JEDEC,ESDA)与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容



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公司已经与多家世界的半导体器件和精密测试领域的品牌厂商签订合作。这些品牌包括:探针台系统制造商MPI;世界微波组件和测试系统制造商MAURY;测量仪器制造商KEYSIGHT;的模型服务商Modelithics;EDS设备日本HANWA和TOTOKU等。凭借着多年的行业经验及技术积累,我们可以为客户提供半导体在片测试解决方案、材料电性能测试设备、微波射频器件测量等测试技术服务

 

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(文/小编)
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